公司新聞2022-04-24
X射線熒光光譜儀在涂鍍層分析中的應用-華普通用
X射線熒光法，一直是元素分析的重要方法，同時也適用于樣品涂鍍層厚度及成分分析。
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3022-03
PTC與卡爾蔡司合作開發測量機編程的自動轉換技術-華普通用
基于模型定義（MBD）的興起，蔡司面臨如何在CAD系統中創建CAD模型以保證MBD正確計量轉換的問題。 -
1122-03
一文讀懂德國卡爾蔡司掃描技術的歷史與發展-華普通用
德國蔡司在30多年前就推出了第一臺掃描系統，這一創舉徹底改變了測量技術的發展趨勢。 -
1622-02
多道型凹面ICP發射光譜儀結構及特點-華普通用
早期商品化ICP發射光譜儀?均由火花光源直讀光譜儀改造完成，除將其火花光源更改為等離子光源外，測光系統稍加改變，分光系統基本采用凹面光柵作為色散器。 -
1122-02
全新SPECTRO ARCOS 電感耦合等離子體發射光譜儀-華普通用
SPECTRO ARCOS代表了電感耦合等離子體發射光譜儀(ICPOES)技術的新高度，它能精確分析金屬、化學品、石化產品和其他材料的元素組成，為工業和科研領域的廣大用戶提供準確可靠的分析結果。